高精度，高性價比的即時測量

   5120A——全數字化、高性能相噪與阿倫方差分析儀，實現精確的相位噪聲和阿倫方差測量功能的同時，簡化操作并節(jié)約成本。傳統模擬分析儀器需要外部鎖相環(huán)，致使此類測量儀器復雜、昂貴。相比傳統儀器，創(chuàng)新的5120A相位噪聲儀只要點擊一下按鈕，就能快速、準確地測量SSB相位噪聲和阿倫方差。

  全數字化的5120A簡化了復雜的操作配置和校準步驟：用戶只需直接連接被測器件(DUT)和參考信號,不要求參考源頻率必須與DUT同頻，再按下5120A的綠色“Start”鍵，高分辨率屏上就會顯示精準的測量數據。

   5120A是Microsemi（并購了Symmetricom公司）融合了業(yè)界標準阿倫方差測量設備：5110A，所開發(fā)的新一代產品。除了優(yōu)異的阿倫方差測量能力， 5120A還提供相位噪聲測量，其精度達到±1.0 dB（以前不可能達到的級別）。結合準確的相位噪聲和阿倫方差測量底噪，5120A能更精準地測量最低相噪。

   Microsemi（并購了Symmetricom公司）精通于相位噪聲、阿倫方差測量技術，善于應用高速低噪聲模數轉換技術的優(yōu)點，從而結合多種測量工具，集成為單機解決方案。使5120A 在進行更精準的測量同時，仍可維持較低的成本。

   用戶可根據需要添加5120A內部基準振蕩器，這單機解決方案（即5120A-01）節(jié)省尋找和校準外部參考源的時間，只要連接DUT至5120A-01，即可開始精確的測量。

5120A取代過去的復雜，昂貴的測量儀器，讓測量變得更加快捷、簡便、精準、經濟。

主要特性/優(yōu)點:

• 同時測量相噪和阿倫方差
• 1 - 30 MHz頻率范圍
• 即時顯示測量結果: 無需外部數據處理
• 領先的工業(yè)級精度(±1.0 dB)
• 實現不同頻率間的測量
• 阿倫方差測量（超過300天）
• 相位噪聲測量接近載波處的0.1 mHz
• 無需測量校準，節(jié)省測試時間
• 實時顯示測量結果
• 供用戶選配：內部參考振蕩器
• 最佳性價比解決方案
• 直觀的遠程網絡管理和數據獲取
• 易于操作的圖形用戶界面
• 相位噪聲測試低至-175 dBc/Hz

品質源于傳承

    5120A是Microsemi（并購了Symmetricom公司）在NIST和民用產業(yè)超過20年的研究探索的智慧結晶。5120A多功能測試儀結合了業(yè)界標準級阿倫方差測試儀：5110A的優(yōu)勢，具有業(yè)內最高水準的相位噪聲測量能力。

卓越的準確度

    由于5120A的數字相位偵測器，5120A 成為最精準的工業(yè)測量儀器。 NIST曾校準一臺5120A樣機，并證實其準度高達±1.0 dB，是業(yè)界最高準確度。5120A的阿倫方差測量也是工業(yè)級的領航者： <3E-15@1秒。

超寬范圍的測量能力

    5120A支持最大范圍的相位噪聲和阿倫方差測量，適用于任何商業(yè)上產品。第一步通過把DUT和參考源信號轉換數字信號，5120A采用獨有專利的全數字化設計，測量時無需進行載波抑制，因此，能在最小頻偏下(<0.1 mHz)測量相位噪聲。

    同時，這項技術使5120A能夠連續(xù)300天以上進行阿倫方差測量。這些技術上的優(yōu)勢，讓客戶可以比以往更好地定性其高性能頻率源的水平。

先進的雜散檢測技術

    5120A配備完善的運算法則，實時地檢測和標識雜波。通過匹配濾波器，用窗口函數的傅立葉轉換，比較雜散信號響應的波形，檢測雜波，并在顯示屏上用紅色標識，如上圖5120A相位噪聲顯示屏截圖。值得信賴的專業(yè)雜散檢測技術，讓你更加快捷、方便地進行測量。

操作簡便

    Microsemi（并購了Symmetricom公司） 結合廣泛的相噪和阿倫方差測量的專業(yè)知識，創(chuàng)造了一機式解決方案，具有直觀、簡單明了的GUI。5120A自身即可完成配置及校準功能，因此無需專業(yè)技師觀察檢測，也能非常精確地完成測量任務，節(jié)省人力資源。如上圖所示5120A-01的電路連線，將DUT信號連接至“Input”端口，之后按下綠色“Start”鍵，5120A將自動啟動測量工作。

參考源和被測設備無需同一頻點

   相較傳統測量系統，5120A不要求參考源的頻率必須與DUT頻率相同，要實現這項優(yōu)勢，5120A需合成兩個輸入頻率轉換成帶寬。

   5120A的相位探測器擁有無限的帶寬范圍，無需鎖相兩個輸入。這意味著，只要有一個低噪參考源，就能實現任何被測頻率下的精密測量。

多種輸出選擇

   5120A滿足打印或進一步的數據分析的應用需求。5120A只需連接兼容PostScript語言的打印機，設定好打印機，然后按下5120A上的‘Print’按鈕，就能直接打印5120A的測量數據。 還可以通過以太網連接口輸出測量數據到遠程計算機，這些數據可導入Stable32等行業(yè)標準軟件進行頻率穩(wěn)定性分析。

無外部參考源的精密測量

    有了可選配的高性能內部參考振蕩器，5120A讓相位噪聲測量變得更加容易， 該設備采用抵消兩個內部振蕩器通道間互相關噪聲的方法，使其能在兩個通道底噪下進行有效地測量。5120A-01可實現低至-168 dBc/Hz的精密測量，與具有相同性能參數并有外部參考振蕩器的相噪測試儀相比，成本大幅降低。不再需要花費大量的時間去尋找、校準外部參考源，現在即可完全依賴于5120A-01。

全數字測試裝置的優(yōu)勢

    5120A是結合尖端定時技術，并采用Microsemi（并購了Symmetricom公司）公司專利相位測量算法的先進測量設備。如上圖所示（5120A 結構框圖），待測源和參考源信號進入5120A，立即被模數轉換電路轉換成數字信號，這使5120A在無外部鎖相環(huán)的情況下，仍能進行精準的測量，無需校準測量。另外，全數字化設備5120A不要求參考源頻率必須和DUT同頻。

交叉相關技術

    5120A 結構框圖中并行的上行和下行通路，說明了該設備的互相關技術。在并行同步測量之后，5120A相交互兩通路離散傅立葉變換，以評估輸入設備的噪聲，同時抑制兩個測量子系統的獨立噪聲。從而實現最終測量結果比單通道設備更加接入底噪，更加精準。